Introducción y objetivos: El mercurio (II) acuoso, Hg2+, es todavía un contaminante peligroso ampliamente distribuido. Las estrategias de fitorremediación son ambientalmente amigables y de bajo costo. Con el fin de optimizar estos procesos, se utilizó Spirodela intermedia, una macrófita acuática autóctona, para remover Hg2+ en agua mineral, en condiciones de laboratorio, estudiando la distribución in vivo de mercurio y otros elementos por mapeo barriendo con una microsonda nuclear.M&M: Las exposiciones (concentraciones de Hg2+ de 1 y 10 mg.L-1) duraron al menos 2 semanas. Los parámetros: tasa de captación, factores de bioconcentración (BCFs) de mercurio en raíces y frondes y factores de translocación (TFs) fueron calculados a partir de cuantificaciones de microPIXE con el acelerador Tandar de Buenos Aires.Resultados: S. intermedia puede ser considerado un hiperacumulador. Los más altos BCFs (> 1000 raíces y > 200 frondes) correspondieron a 1 mg.L-1 a las 96 hs. En todos los casos, se constató que TFs < 1, indicando que no ocurre translocación de Hg2+. Se obtuvieron mapas 2D de alta resolución espacial de la distribución elemental in vivo para las diferentes condiciones. Se observó que la distribución de mercurio en frondes es más heterogénea que en raíces. Fue importante la detección de Hg en clorénquima donde sus efectos son más tóxicos. Se analizó una correlación entre la distribución de mercurio y calcio y la relación con respuestas fisiológicas.Conclusiones: La fitorremediación de Hg2+ con S. intermedia es una alternativa conveniente. Por haberse realizado en agua real, el protocolo es escalable.

An experimental evaluation of the sensitivity to Analog Single Events of a full-custom CMOS Operational Amplifier is reported. The output voltage waveform due to single ion impacts was studied, by scanning the entire area of the circuit under test, using the heavy ion microbeam facility at TANDAR laboratory. A two-dimensional map of the transients captured in the design was obtained, in which the grouping of events in the most sensitive transistors of the circuit can be seen, showing great agreement with results obtained by means of a SPICE simulation environment. Experimental validation of sensitivity provides a better insight into the true resilience against single events of a 180nm technology custom circuit, and shows that the microbeam facility is fit to perform integrated circuit irradiation to extract information down to the single transistor resolution.